Ram Stress Test是美国Ultra-X公司旗下的一个专业记忆体测试程式，是专门给系统生产厂商出机前用的测试程式，他其实是从其他的产品独立出来的一项测试，该公司专作系统测试的软硬体，方便生产厂商将产品做详细测试，至于R.S.T.在目前记忆体生产业使用非常普遍，因为经过他的测试几乎就能应付大部分的记忆体问题，所以是非常好用的一个测试工具！！
　　使用非常简易，只要设定为软碟开机就行了，他是一个独立开发的系统，没有依附任何作业系统，相容于x86系列，只要BIOS认的到的容量他都能测！！
　发现 ATS 选项错误，在BIOS中，记忆体选项设成Auto时，记忆体的CL=2，改成Manual，自设CL=2.5时，上述选项才能通过。
　　附件IMZ需要用winImage展开到软盘上，然后用此软盘启动系统。
　　附件NRG是用Nero烧录可启动光盘的软盘镜像文件。
　　程序执行后，第一选项是测试物理内存中基本内存地址（<640K），第二项是扩展内存地址，第三项是测试你CPU的L2 cache。

Ram Stress Test是美国Ultra-X公司旗下的一个专业记忆体测试程式，专门给系统生产厂商出机前测试用的，它其实是从其它的产品中独立出来的一项测试。该公司专做系统测试的软硬体，方便生产厂商进行产品详细测试。R.S.T.在目前记忆体生产业使用非常普遍，因为经过它的测试几乎就能应付大部分的记忆体问题。在没有专业的内存维修工具出现以前，此内存检测软件是电脑维修人员修理内存的最好工具，以99%的测试准确率在维修行业中有目共睹。
这个软体满金贵的，国外售价500多美金！

即使不是维修人员，如果您的系统有莫名其妙的当机状况或是想要超频记忆体，不用怀疑，请用R.S.T.！

几点说明：

☆　可以测试SD及DDR内存。

☆　闪动数字——0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF
依次代表内存条的8颗颗粒。
从左到右横着数：0-7代表第1颗粒区域、8-F代表第2颗粒、0-7代表第3颗粒、8-F代表第4颗粒、0-7代表第5颗粒代、8-F代表第6颗粒、0-7代表第7颗粒、8-F代表第8颗粒

☆　点不亮内存的测试方法——很多内存短路或者颗粒损坏后都不能点亮，点不亮的可以用一根好的内存去带动它（可解决部分点不亮问题）。必须SD的带SD的，DDR的带DDR的。本软件会自动跳过好的去检测坏的那根。

☆　发现 ATS 选项错误，在BIOS中，记忆体选项设成Auto时，记忆体的CL=2，改成Manual，自设CL=2.5时，上述选项才能通过。

☆　程序执行后，第一选项是测试物理内存中基本内存地址（<640K），第二项是扩展内存地址，第三项是测试CPU的 L2 cache。

☆　软件为光盘镜像文件，用刻录机做成成启动光盘（如需要软盘版的请留言说明），使用非常简易，电脑只要设定为软、光盘启动，插入制作好的盘即可自动运行。它是一个独立开发的系统，没有依附任何作业系统，相容于x86系列，只要BIOS认的到的容量都能测！

RAM测试软件说明书         
(R.S.T )UX版

闪动的一排测试数字代表内存8颗粒的测试情况。

从左至右，0-7代表第一区域，8-F代表第二区域;0-7代表第三区域,8-F代表第四区域;……依次代表内存条的8颗颗粒。



⒈DDR8位与16位的单面测法:

⑴. 0-7(1 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第1颗粒已经损坏

⑵. 8-F(2 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第2颗粒已经损坏

⑶. 0-7(3 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第3颗粒已经损坏

⑷. 8-F(4 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第4颗粒已经损坏

⑸. 0-7(5 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第5颗粒已经损坏

⑹. 8-F(6 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第6颗粒已经损坏

⑺. 0-7(7 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第7颗粒已经损坏

⑻. 8-F(8 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第8颗粒已经损坏

注意:DDR的颗粒排列循序是1-2-3-4-5-6-7-8



⒉如果你是128M的双面DDR内存,如以上显示界面图:



1-16M ------------------------------------------------------------------------------------------------------------



16-32M  -------------------------------------------------------------------------------------------------------



32-48M ------------------------------------------------------------------------------------------------------------



48-64M-------------------------------------------------------------------------------------------------------------

从1M到64M的上面的4根虚线上出现乱码的话,说明这根内存的的第一面的颗粒有问题(判断哪个颗粒的好坏按照以上的说明)

64-80M ------------------------------------------------------------------------------------------------------------



80-96M  -------------------------------------------------------------------------------------------------------



96-112M------------------------------------------------------------------------------------------------------------

112-128M----------------------------------------------------------------------------------------------------------

从64M到128M的上面的4根虚线上出现乱码的话,说明这根内存的的第二面的颗粒有问题(判断哪个颗粒的好坏按照以上的说明)



注意:在内存的PCB板上的两边标着1与92的代表第一面，93与184的代表第二面。1-128M的8根虚线是用来区分两面区域的作用.



⒊SD的8位与16位的单面测法:

⑴. 0-7(1)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第8颗粒已经损坏

⑵. 8-F(2)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第4颗粒已经损坏

⑶. 0-7(3)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第7颗粒已经损坏

⑷. 8-F(4)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第3颗粒已经损坏

⑸. 0-7(5)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第6颗粒已经损坏

⑹. 8-F(6)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第2颗粒已经损坏

⑺. 0-7(7)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第5颗粒已经损坏

⑻. 8-F(8)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第1颗粒已经损坏

（注： PCB板上从1到84为第一面，颗粒的排列顺序从1到84为8-7-6-5-4-3-2-1，切记注意）

4.通过以上的介绍，说明SD的双面是跟DDR的是一样的。但是颗粒的好坏判断要按照

它们的排列循序来判断。

5.PCB板的短路或者虚焊的测法:如果在8根虚线上都出现乱码，说明这根内存的PCB板有问题

6.点不亮的内存的测试方法: 很多内存短路或者颗粒损坏后都不能点亮，点不亮的可以用一根好的内存去带动它。 必须SD的带SD的，DDR的带DDR的。本软件会自动跳过好的那根去检测坏的那根。

7.使用方法:直接把光盘插入光驱,在主板的CMOS里设置光驱起动, 启动后本软件会自动引导到测试界面进行检测