SD内存条金手指引脚功能定义
1 VSS 22 NC 43 VSS 64 VSS 85 VSS 106 NC 127 VSS 148 VSS
2 D0 23 VSS 44 NC 65 D21 86 D32 107 VSS 128 CKE0 149 D53
3 D1 24 NC 45 S2# 66 D22 87 D33 108 NC 129 S3# 150 D54
4 D2 25 NC 46 DMB2 67 DQ23 88 D34 109 NC 130 DMB6 151 D55
5 D3 26 VDD 47 DMB3 68 VSS 89 D35 110 VDD 131 DMB7 152 VSS
6 VDD 27 WE# 48 NC 69 D24 90 VDD 111 CAS# 132 NC 153 D56
7 D4 28 DMB0 49 VDD 70 D25 91 D36 112 DMB4 133 VDD 154 D57
8 D5 29 DMB1 50 NC 71 D26 92 D37 113 DMB5 134 NC 155 D58
9 D6 30 S0# 51 NC 72 D27 93 D38 114 S1# 135 NC 156 D59
10 D7 31 NC 52 NC 73 VDD 94 D39 115 RAS# 136 NC 157 VDD
11 D8 32 VSS 53 NC 74 D28 95 D40 116 VSS 137 NC 158 D60
12 VSS 33 A0 54 VSS 75 D29 96 VSS 117 A1 138 VSS 159 D61
13 D9 34 A2 55 D16 76 D30 97 D41 118 A3 139 D48 160 D62
14 D10 35 A4 56 D17 77 D31 98 D42 119 A5 140 D49 161 D63
15 D11 36 A6 57 D18 78 VSS 99 D43 120 A7 141 D50 162 VSS
16 D12 37 A8 58 D19 79 CK2 100 D44 121 A9 142 D51 163 CK3
17 D13 38 A10 59 VDD 80 NC 101 D45 122 BA0 143 VDD 164 NC
18 VDD 39 BA1 60 D20 81 NC 102 VDD 123 A11 144 D52 165 SA0
19 D14 40 VDD 61 NC 82 SDA 103 D46 124 VDD 145 NC 166 SA1
20 D15 41 VDD 62 NC 83 SCL 104 D47 125 CK1 146 NC 167 SA2
21 NC 42 CK0 63 CKE1 84 VDD 105 NC 126 A12 147 NC 168 VDD
广东江山科技公司（编）--DDR/SD内存分区检测仪 (1)
DDR内存条金手指引脚功能定义
1 VREF 24 D17 47 DNU 70 VDD 93 VSS 116 VSS 139 VSS 162 D47
2 D0 25 DS2 48 A0 71 NC 94 D4 117 D21 140 DNU 163 NC
3 VSS 26 VSS 49 DNU 72 D48 95 D5 118 A11 141 A10 164 VDDQ
4 D1 27 A9 50 VSS 73 D49 96 VDDQ 119 DM2 142 DNU 165 D52
5 DS0 28 D18 51 DNU 74 VSS 97 DM0 120 VDD 143 VDDQ 166 D53
6 D2 29 A7 52 BA1 75 CK2# 98 D6 121 D22 144 DNU 167 A13
7 VDD 30 VDDQ 53 D32 76 CK2 99 D7 122 A8 145 VSS 168 VDD
8 D3 31D19 54 VDDQ 77 VDDQ 100 VSS 123 D23 146 D36 169 DM6
9 NC 32 A5 55 D33 78 DS6 101 NC 124 VSS 147 D37 170 D54
10 NC 33 D24 56 DS4 79 D50 102 NC 125 A6 148 VDD 171 DQ55
11 VSS 34 VSS 57 D34 80 D51 103 NC 126 D28 149 DM4 172 VDDQ
12 D8 35 D25 58 VSS 81 VSS 104 VDDQ 127 D29 150 D38 173 NC
13 D9 36 DS3 59 BA0 82 NC 105 D12 128 VDDQ 151 D39 174 D60
14 DS1 37 A4 60 D35 83 D56 106 D13 129 DM3 152 VSS 175 D61
15 VDD 38 VDD 61 D40 84 D57 107 DM1 130 A3 153 D44 176 VSS
16 CK1 39 D26 62 VDDQ 85 VDD 108 VDD 131 D30 154 RAS# 177 DM7
17 CK1# 40 D27 63 WE# 86 DS7 109 D14 132 VSS 155 D45 178 D62
18 VSS 41 A2 64 D41 87 D58 110 D15 133 D31 156 VDDQ 179 D63
19 D10 42 VSS 65 CAS# 88 D59 111 CKE1 134 DNU 157 S0# 180 VDDQ
20 D11 43 A1 66 VSS 89 VSS 112 VDDQ 135 DNU 158 S1# 181 SA0
21 CKE0 44 DNU 67 DS5 90 NC 113 NC 136 VDDQ 159 DM5 182 SA1
22 VDDQ 45 DNU 68 D42 91 SDA 114 D20 137 CK0 160 VSS 183 SA2
23 D16 46 VDD 69 D43 92 SCL 115 A12 138 CK0# 161 D46 184 VDDSPD
内存在控制总线，地址总线的控制下，每次以64位数据（D0-D63）与北桥和CPU进行交换，
所以D0-D63中只要一数据内存出现错误，CPU就不能正常运转。（不能显示，蓝屏，重启）。
计算机中程序：BOIS和DOS占用内存最低位地址存储空间，接着为WINDOWS，然后为应用程序使用。
如果任何一数据完全不能交换数据，为不能显示
如果数据坏区在中间地址存储空间，为能显示，但不能按装WINDOWS
如果数据坏区在高位地址存储空间，为能显示，能按装WINDOWS，但其他应用程序不能正常工作
DDR/SD内存条基本结构
由于单一内存芯片不能提供CPU所需64位数据，所以用多颗内存芯片同时工作提供CPU所需64位数据。
结构如下：
每个内存芯片也有自己的数据位，即每个传输周期能提供的数据量。理论上，完全可以做出一个数据
位为64位的芯片来满足CPU的需要，但这对技术的要求很高，在成本和实用性方面也都处于劣势。
所以芯片的数据位一般都较小。台式机市场所用的SD/DDR芯片位宽最高也就是16bit，常见的则是8bit。
这样，为了组成CPU所需的数据位，就需要多颗芯片并联工作。对于16位芯片，
需要4颗（4×16位=64位）
。对于8位芯片，则就需要8颗了。（8×8位=64位）。对于4位芯片，则就需要16颗了。（16×4位=64位）
。
随着计算机应用的发展，一个计算机数据系统只有一组64位数据已经不能满足容量的需要（一组64位数
据常称呼为"面"）。所以，芯片组开始可以支持多组64位数据，一次选择一组64位数据工作，这就有了
芯片组支持多少（物理内存）组的说法。而在Intel的定义中，则称组为行（Row），比如845G芯片组支
持4个行，也就是说它支持4个组，但组与行是一样。
下面为通过DDR/SD内存分区检测仪分析故障位置，发生故障原因。
广东江山科技公司（编）--DDR/SD内存分区检测仪 (2)
DDR/SD内存条基本线路--八片装为例

地址总线

控制总线
DDR为三条时钟供给内存条，一般为：四片装只用二条，一条供给1，2内存芯片，另一条供给3，4内存芯片。
八片装用三条，一般为：1，2，3内存芯片共用一条，4，5，6内存芯片共用一条，7，8内存芯片共用一条。
十六片装和双面八片装与八片装类似，区别为它同时供给双面内存芯片。
SD为四条时钟供给内存条，一般为：四片装每一条供给一颗内存芯片，
八片装用四条，一般为：1，2内存芯片共用一条，3，4内存芯片共用一条，5，6内存芯片共用一条，7，8内存芯片共用一条。
十六片装和双面八片装与八片装类似，区别为它同时供给双面内存芯片。
DDR/SD内存条故障原因，故障位置，检测分析
首先简单扼要说明DDR与SD的区别： DDR SDRAM全称为Double Data Rate SDRAM，中文名为"双倍数
据流SDRAM"。DDR SDRAM在原有的SDRAM的基础上改进而来。也正因为如此，DDR能够凭借着转
产成本优势来打败昔日的对手RDRAM，成为当今的主流。DDR与SD存储结构完全相同，维一区别为数
据IN/OUT结构不同。SD为每一次传输一个数据，DDR为每一次传输二个数据。早期DDR在如何每一次
传输二个数据方式稍微不同。
（1）内存分区检测仪-主检测结果有数据线路故障显示红灯不亮（部分），说明该数据线路完全不
能传输数据，原因：芯片完全不能输出数据，线路板与电阻或芯片引脚断开，该数据线路短路到地，
金手指接触不良。
（2）内存分区检测仪-主检测结果有数据线路故障显示红灯一直处于高亮状态（部分），原因：
芯片数据完全锁定，芯片内部数据线短路到电源，线路板或芯片引脚短路到电源。
（3）内存分区检测仪-主检测结果有数据线路故障显示红灯一直处于高亮状态（全部），原因：内存条
控制总线断开，短路到电源，短路到地，金手指接触不良。
（4）内存分区检测仪-主检测结果有数据线路故障显示红灯闪烁（部分），说明该数据线路传输数据出现
断断续续，原因：芯片数据存储空间出现严重坏区，如果为整个内存芯片数据线路故障显示红灯闪烁，
可能该芯片控制总线，地址总线部分断开。
（5）内存分区检测仪-主检测结果有数据线路故障显示红灯闪烁（全部），原因：内存条控制总线，地址
总线部分断开，相邻地址总线短路，使地址纷乱，出错。
（6）内存分区检测仪-主检测结果有数据线路故障显示红灯不亮（全部），原因：内存条控制总线断开，
短路到电源，短路到地，金手指接触不良。
（7）内存分区检测仪-主检测结果有数据坏区显示绿灯亮（部分，红灯正常情况），原因：芯片数据存储
空间出现坏区，这类内存条有的能显示，但不能按装WINDOWS，或其他应用程序不能正常工作。
（8）内存分区检测仪-在检测SD内存条时主检测结果有数据坏区显示绿灯亮（全部，红灯正常情况），
原因：内存条中有坏内存芯片并使控制总线受干扰，这类故障的解除为：独一把内存芯片拆卸再检测（
内存分区检测仪在内存条上只有一颗芯片时也能正常进行检测）注：如为SD内存条可在DDR状态下进
行检测，因为DDR状态下内存分区检测仪抗干扰能力强。或是地址总线部分断开，相邻地址总线短路，
使地址纷乱，出错。
（9）内存分区检测仪-在检测DDR内存条时主检测结果有数据坏区显示绿灯亮（全部，红灯正常情况），
原因：内存条中有坏内存芯片并使控制总线受干扰，VREF参考电压受内存条中坏内存芯片影响。
广东江山科技公司（编）--DDR/SD内存分区检测仪 (3)

（10）内存分区检测仪-主检测结果有数据坏区显示绿灯亮（相邻二芯片或三芯片，红灯正常情况），
该情况一般为时钟受干扰，内存条上时钟匹配电路（电阻，电容）变值，损坏。时钟线路断开，关系时
钟金手指接触不良。同样：如为SD内存条可在DDR状态下进行检测，因为DDR状态下内存分区检测仪
抗干扰能力强。
（11）内存分区检测仪-辅助检测结果为使检测结果更正确，判断芯片数据线是否处于锁定状态。
（12）内存分区检测仪-地址故障显示（黄灯不亮），该地址线路短路到电源，短路到地，相邻地址线
路短路。

上图为X16芯片引脚功能定义，如为X8芯片4，7，10，13，54，57，60，63为空脚。为X4芯片2，4，7，
8，10，13，54，57，59，60，63，65为空脚。
请参考上面资料分析故障出现位置，技术无止境，欢迎共同学习，讨论！